--- title: U盘闲置6年，数据还在吗？实测结果来了 date: 2026-03-30T08:46:56Z modified: 2026-03-30T08:49:59Z permalink: "https://www.appinn.com/usb-flash-drive-data-retention-6-years/" type: post status: publish excerpt: "" categories: - 评测 tags: - 评测 - U盘 - 慢实验 featured_image: "https://www.appinn.com/wp-content/uploads/2026/03/cover-1774858302301-1.jpg" author: 青小蛙 timestamp: 2026-03-30T08:49:59Z --- 把U盘放进抽屉，6年不管，你觉得里面的数据还在吗？ 有人做了一个长期测试：2019年底，一次性买了 10 个 32GB 的 U盘，写入随机数据后就放进抽屉。此后按计划每隔几年取出一个读取验证。 目前进行到第6年，已测试的U盘全部正常，没有出现任何数据损坏。 这个实验，准备进行27年！ ![](https://www.appinn.com/wp-content/uploads/2026/03/cover-1774858302301-1.jpg) ## 目录 - [U盘可靠性实验](#u盘可靠性实验) - [实验目的](#实验目的) - [试验设备](#试验设备) - [实验内容：错峰读取](#实验内容：错峰读取) - [完整计划](#完整计划) - [实验结果](#实验) - [复测U盘](#复测) - [一个建议](#一个) ## U盘可靠性实验 这是发布在 reddit/数据囤积者 上的[帖子](https://old.reddit.com/r/DataHoarder/comments/1q6xnun/flash_media_longevity_testing_6_years_later/)，作者 vanceza 同时也写在了[博客](https://blog.za3k.com/usb-flash-longevity-testing-year-2/)中。 ### 实验目的 U盘在“长期断电、不使用”的情况下，数据能保存多久 ### 试验设备 具体为：Kingston Digital DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 Flash Drive (DTSE9H/32GBZ) - 型号 DTSE9H/32GBZ - 条形码 740617206432 - WO# 8463411X001 - ID 2364 - bl 1933 - 序列号206432TWUS008463411X001005 ### 实验内容：错峰读取 实验采用一种“错峰读取”的方式，实验第一天就用随机数据，写满10个 U盘，存放在抽屉中。 - 到指定年份，**拿出一个U盘进行读取测试**（checksum 校验） - 同时对较早测试过的U盘进行**复测** - 每次读取后，会把数据**重新写入（刷新）** - 测试年份：**1, 2, 3, 4, 6,** 8, 11, 15, 20, 27 ### 完整计划 | 年份 | 首次测试（关键样本） | 复测并重写的U盘 | 说明 | | --- | --- | --- | --- | | 1 | 1 | — | 第1号盘：1年样本 | | 2 | 2 | 1 | 第2号盘：2年样本 | | 3 | 3 | 1,2 | 第3号盘：3年样本 | | 4 | 4 | 1,2,3 | 第4号盘：4年样本 | | 5 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 6 | 5 | 1,2,3,4 | 第5号盘：6年样本 | | 7 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 8 | 6 | 1,2,3,4,5 | 第6号盘：8年样本 | | 9 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 10 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 11 | 7 | 1,2,3 | 第7号盘：11年样本 | | 12 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 13 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 14 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 15 | 8 | 1,2,3,7 | 第8号盘：15年样本 | | 16 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 17 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 18 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 19 | — | 1,2,3,7,8 | 无新样本 | | 20 | 9 | 1,2,3,4,5,6 | 第9号盘：20年样本 | | 21 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 22 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 23 | — | 1,2,3,7,8 | 无新样本 | | 24 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 25 | — | 1,2,3 | 无新样本 | | 26 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 | | 27 | 10 | 1,2,3,7,8 | 第10号盘：27年样本 | | 28 | — | 1,2,3,4,5,6,9 | 无新样本 | ## 实验结果 实验从2019年11月开始，作者在2026年1月发布了第6年的实验结果： | 年份 | 首次测试U盘 序号 | 对应闲置时间 | 首次测试结果 | 复测U盘 | 复测结果 | 是否发现bit rot | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | 1 | 1 | 1年 | 正常 | — | — | 否 | | 2 | 2 | 2年 | 正常 | 1 | 正常 | 否 | | 3 | 3 | 3年 | 正常 | 1,2 | 正常 | 否 | | 4 | 4 | 4年 | 正常 | 1,2,3 | 正常 | 否 | | 5 | — | — | — | 1,2,3 | 正常 | 否 | | 6 | 5 | 6年 | 正常 | 1,2,3,4 | 正常 | 否 | 目前看起来，U盘放6年，没有任何问题。 ![](https://www.appinn.com/wp-content/uploads/2026/03/Screenshot-2026-03-30-08.13.33@2x.avif) ### 复测U盘 在实验过程中，有一个复测并重写阶段，可以理解为： 该U盘已经完成任务（限制N年不通电，是否可读取），此后是新任务：当作普通U盘使用，用于持续读写和稳定性验证。 ## 一个建议 另外注意：U盘里的数据，本质上是靠“电荷”存储在闪存单元中的。随着时间推移，这些电荷会慢慢泄漏，原本表示“0”和“1”的电压差逐渐变小。 当这种差异小到一定程度，控制器就可能读错数据，于是就出现了所谓的 bit rot（位错误）。 除了时间： - 温度越高，泄漏速度越快 - 擦写次数越多 → 存储单元老化越严重 所以，隔几年把U盘拿出来读写一次，以防数据丢失。 --- 原文：https://www.appinn.com/usb-flash-drive-data-retention-6-years/ ## Topics **分类目录:** [评测](https://www.appinn.com/category/review/?output_format=md) **标签:** [U盘](https://www.appinn.com/tag/u%e7%9b%98/?output_format=md), [慢实验](https://www.appinn.com/tag/%e6%85%a2%e5%ae%9e%e9%aa%8c/?output_format=md)